发明名称 检查晶圆表面的装置及其方法
摘要 一种检查晶圆表面的装置及其方法,其中多个窄带光谱从晶圆的表面成像。
申请公布号 TW200726968 申请公布日期 2007.07.16
申请号 TW095122898 申请日期 2006.06.26
申请人 比斯泰克半导体系统股份有限公司 发明人 苏黎克 沃尔夫冈;海登 麦可
分类号 G01N21/25(2006.01);H01L21/66(2006.01) 主分类号 G01N21/25(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 德国