发明名称 | 接触窗与非挥发性记忆体的制造方法 | ||
摘要 | 一种接触窗的制造方法,此方法是先提供基底。此基底上已形成至少二个堆叠闸极结构,这二个堆叠闸极结构自基底而上至少包括介电层、导体层及至少一顶盖层。这些堆叠闸极结构侧壁上的顶盖层具有数个缺口。然后,于堆叠闸极结构之侧壁上形成数个间隙壁。间隙壁填满缺口。接着,于二间隙壁之间的基底上形成接触窗。由于此方法可以避免插塞连接堆叠闸极结构中的多晶矽闸极,因此可以增加包括记忆体的半导体元件的良率。 | ||
申请公布号 | TW200727392 | 申请公布日期 | 2007.07.16 |
申请号 | TW095100723 | 申请日期 | 2006.01.09 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 赖佳平;王进忠;魏鸿基 |
分类号 | H01L21/768(2006.01);H01L21/8246(2006.01);H01L27/112(2006.01) | 主分类号 | H01L21/768(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |