发明名称 接触窗与非挥发性记忆体的制造方法
摘要 一种接触窗的制造方法,此方法是先提供基底。此基底上已形成至少二个堆叠闸极结构,这二个堆叠闸极结构自基底而上至少包括介电层、导体层及至少一顶盖层。这些堆叠闸极结构侧壁上的顶盖层具有数个缺口。然后,于堆叠闸极结构之侧壁上形成数个间隙壁。间隙壁填满缺口。接着,于二间隙壁之间的基底上形成接触窗。由于此方法可以避免插塞连接堆叠闸极结构中的多晶矽闸极,因此可以增加包括记忆体的半导体元件的良率。
申请公布号 TW200727392 申请公布日期 2007.07.16
申请号 TW095100723 申请日期 2006.01.09
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 赖佳平;王进忠;魏鸿基
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L21/8246(2006.01);H01L27/112(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号