发明名称 Halbleiteranordnungen und Verfahren zur Herstellung derselben
摘要 Ein erstes Gate-Dielektrikum eines ersten Transistors ist über einem Werkstück in einem ersten Bereich angeordnet und ein zweites Gate-Dielektrikum eines zweiten Transistors ist über dem Werkstück in einem zweiten Bereich angeordnet. Das zweite Gate-Dielektrikum umfasst ein zum ersten Gate-Dielektrikum verschiedenes Material. Ein erstes, einen ersten Dotierstoff umfassendes dotierstoffhaltiges Metall ist in vertieften Bereichen des Werkstücks benachbart zu dem ersten Gate-Dielektrikum angeordnet und ein zweites, einen zweiten Dotierstoff umfassendes dotierstoffhaltiges Metall ist in vertieften Bereichen des Werkstücks benachbart zu dem zweiten Gate-Dielektrikum angeordnet. Ein erstes, einen ersten Dotierstoff umfassendes Dotiergebiet ist in dem Werkstück angrenzend an das erste dotierstoffhaltige Metall angeordnet. Ein zweites, einen zweiten Dotierstoff umfassendes Dotiergebiet ist in dem Werkstück angrenzend an das zweite dotierstoffhaltige Metall angeordnet. Die dotierstoffhaltigen Metalle und die Dotiergebiete umfassen Source- und Drain-Gebiete des ersten und zweiten Transistors.
申请公布号 DE102006059014(A1) 申请公布日期 2007.07.12
申请号 DE200610059014 申请日期 2006.12.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 LI, HONG-JYH
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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