Verfahren und Einrichtung zur Ultraschallprüfung eines Werkstückes mit einer unebenen Oberfläche

摘要

Bei einem Verfahren und einer Einrichtung zur Ultraschallprüfung eines Werkstückes (2) mit einer unebenen Oberfläche (13, 13b) mit einem an das Werkstück (2) akustisch angekoppelten Ultraschallprüfkopf (10), der eine Mehrzahl von starr in einem linearen Array angeordneten Wandlerelementen (20¶1¶ bis 20¶n¶) enthält, die mit einer für jedes Wandlerelement (20¶1¶ bis 20¶n¶) vorgegebenen Verzögerungszeit zeitverzögert ansteuerbar sind, wird für eine Anzahl der Wandlerelemente (20¶1¶ bis 20¶n¶) die Laufzeit eines von einem einzelnen Wandlerelement (20¶1¶ bis 20¶n¶) gesendeten und von der Oberfläche (13) reflektierten und von diesem Wandlerelement (20¶1¶ bis 20¶n¶) empfangenen Ultraschallsignals gemessen und zu einer Korrektur der Verzögerungszeiten herangezogen, und es werden anschließend die Wandlerelemente (20¶1¶ bis 20¶n¶) mit diesen korrigierten Verzögerungszeiten angesteuert.