发明名称 |
一种可靠预测碲镉汞光电响应截止波长的非接触实验方法 |
摘要 |
一种可靠预测HgCdTe光电响应截止波长的非接触实验方法,系综合运用透射、光电流、光调制反射和光致发光多种光谱表征手段,对77K温度下材料的截止能量进行研究。结果表明:由于缺陷/杂质能级的存在,使传统的透射光谱不能准确预测材料的光电响应截止波长;而根据经验公式估算的材料截止波长则通常偏短。红外光调制反射光谱是非接触性检测方法,又因为它与光电流谱的三阶导数谱相似,可以作为一种可靠预测材料光电响应截止波长的非接触检测手段。 |
申请公布号 |
CN1995974A |
申请公布日期 |
2007.07.11 |
申请号 |
CN200610148066.0 |
申请日期 |
2006.12.27 |
申请人 |
中国科学院上海技术物理研究所 |
发明人 |
邵军;吕翔;陆卫;吴俊;越方禹;黄炜;李宁;何力;褚君浩 |
分类号 |
G01N21/25(2006.01);G01J3/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/25(2006.01) |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 |
代理人 |
田申荣 |
主权项 |
1、一种可靠预测HgCdTe光电响应截止波长的非接触实验方法,其特征在于:结合基于傅立叶红外变换光谱仪的光电流、透射、光调制反射和光致发光多种光谱表征,对77K温度下砷掺杂的窄禁带Hg1-xCdxTe材料的系统研究。 |
地址 |
200083上海市虹口区玉田路500号 |