发明名称 检查设备和方法
摘要 本发明的检查设备以及检查方法提供了提高的清晰度。所述检查设备包括:平台,用于支撑将被检查的物件;光学显微镜,设置有接近所述平台和从所述平台退回的物镜,以检查物件;观察口透镜,介于所述物件和所述物镜之间,并且具有预定的曲率半径。
申请公布号 CN1995988A 申请公布日期 2007.07.11
申请号 CN200710001533.1 申请日期 2007.01.04
申请人 三星电子株式会社 发明人 白东石;徐济琓;片希秀;田炳焕;崔龙镐
分类号 G01N21/88(2006.01);G01N21/84(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人 郭鸿禧;韩素云
主权项 1、一种检查设备:包括:平台,用于支撑将被检查的物件;光学显微镜,设置有接近所述平台和从所述平台退回的物镜,以检查物件;观察口透镜,介于所述物件和所述物镜之间,并且具有预定的曲率半径。
地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416