| 发明名称 | 一种直射式介质透镜及其在微波近场检测中的应用 | ||
| 摘要 | 本发明涉及的一种直射式介质透镜及其在微波检测中应用，其直射式介质透镜由设于天线与检测目标之间的数个介电常数呈等差变换的介质薄片1…n叠置组成。其应用方法是：在天线辐射面A和检测目标介质B之间放置2个结构相反的介质透镜C、C′，每个介质透镜由n块介电常数呈等差变化的介质薄片C<SUB>1</SUB>－C<SUB>n</SUB>和C′<SUB>1</SUB>－C′<SUB>n</SUB>组成。这种直射式介质透镜，在将其取代原来位于天线与检测目标之间的自由空间后。不仅能减小电磁波在各介质分界面上的反射，还能有效聚焦信号，并降低UWB信号的传播速度，从而在距离不变的情况下增加信号的传播时间、使时延变得明显。 | ||
| 申请公布号 | CN1996664A | 申请公布日期 | 2007.07.11 |
| 申请号 | CN200610147534.2 | 申请日期 | 2006.12.19 |
| 申请人 | 华东师范大学 | 发明人 | 姚萌 |
| 分类号 | H01Q19/06(2006.01);H01Q15/02(2006.01);H01Q15/08(2006.01);G01R29/08(2006.01) | 主分类号 | H01Q19/06(2006.01) |
| 代理机构 | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 | 代理人 | 吴泽群 |
| 主权项 | 1一种直射式介质透镜及其在微波检测中应用，其直射式介质透镜由设于天线与检测目标之间的数个介电常数呈等差变换的介质薄片1…n叠置组成。 | ||
| 地址 | 200062上海市中山北路3663号 | ||