发明名称 局部硅-氧化物-氮化物-氧化物-硅结构及其制造方法
摘要 本发明公开了一种局部硅-氧化物-氮化物-氧化物-硅(SONOS)结构及其制造方法。该局部SONOS结构具有两片栅极和自对准氧化物-氮化物-氧化物(ONO)结构,包括:衬底;ONO结构,在衬底上;第一栅极层,在ONO结构上并与其对准;栅极绝缘体,在ONO结构旁的衬底上;以及,第二栅极层,在第一栅极层上和栅极绝缘体上。第一和第二栅极层彼此电连接。ONO结构、第一和第二栅极层一同限定了至少1位局部SONOS结构。相应的制造方法包括:设置衬底;在衬底上形成ONO结构;在ONO结构上形成第一栅极层并且第一栅极层与ONO结构对准;在ONO结构旁的衬底上形成栅极绝缘体;在第一栅极层和栅极绝缘体上形成第二栅极层;以及电连接第一和第二栅极层。
申请公布号 CN1326245C 申请公布日期 2007.07.11
申请号 CN200410001272.X 申请日期 2004.01.05
申请人 三星电子株式会社 发明人 裵金钟;李来寅;金相秀;金基喆;金辰熙;曹寅昱;金成浩;高光旭
分类号 H01L27/105(2006.01);H01L27/12(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L21/768(2006.01);H01L21/8234(2006.01);H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L27/105(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 李晓舒;魏晓刚
主权项 1.一种局部硅-氧化物-氮化物-氧化物-硅结构,包括衬底;衬底上的氧化物-氮化物-氧化物结构;在氧化物-氮化物-氧化物结构上并与其对准的第一栅极层;在氧化物-氮化物-氧化物结构旁的衬底上的栅极绝缘体;以及在第一栅极层上和栅极绝缘体上的第二栅极层,第一和第二栅极层电连接在一起,衬底、氧化物-氮化物-氧化物结构、第一栅极层和第二栅极层限定了至少1位局部硅-氧化物-氮化物-氧化物-硅结构。
地址 韩国京畿道