荧光X线分析方法以及荧光X线分析装置

摘要

一种荧光X线分析方法，可以测量未知试样中含有的元素浓度，而不需要依赖于人的视觉等判别试样，或不需要预先得到来自试样提供方的信息。(1)通过对试样照射X线来判定试样的种类是非金属类材料还是金属类材料的任一种，(2)根据判定的试样种类，选择荧光X线分析的测量条件，(3)根据所选择的测量条件，通过荧光X线分析，测量试样中含有的一种或多种元素的浓度，由此，例如可测量电子/电气设备的部件中含有的Cd、Pb、Hg等微量元素的浓度。

主权项

1、一种荧光X线分析方法，包括：(1)对试样照射X线的工序；(2)将试样分类为非金属类材料或金属类材料的工序；(3)对荧光X线分析用的测量条件的规定列表进行访问的工序；(4)根据样品的分类，从该规定列表选择测量条件的工序；(5)根据所选择的测量条件，控制向试样的X线照射的工序；以及(6)根据所选择的测量条件照射X线，测量试样中所含有的至少一种元素的浓度的工序。