发明名称 |
CMOS图像传感器及其制造方法 |
摘要 |
一种制造CMOS图像传感器的方法,其中当形成埋置型光电二极管时,在光电二极管区中同时形成P型杂质区和P型LDD区,可减少一个步骤,简化制造工艺,且P型杂质区形成在侧壁间隔件下,改善了光电二极管的泄漏电流。该方法包括步骤:提供分为PMOS区、NMOS区以及二极管区的半导体衬底;在半导体衬底上形成STI;仅露出NMOS区并注入低密度N型杂质,形成N型LDD区;露出二极管区和PMOS区并注入杂质以形成P型杂质区和P型LDD区;仅露出二极管区并注入杂质以形成N型杂质区;在栅极的两侧壁上形成侧壁间隔件;仅露出NMOS区并注入高密度N型杂质以形成N型源极和漏极区;仅露出PMOS区并注入高密度P型杂质以形成P型源极和漏极区。 |
申请公布号 |
CN1992210A |
申请公布日期 |
2007.07.04 |
申请号 |
CN200610156708.1 |
申请日期 |
2006.12.28 |
申请人 |
东部电子股份有限公司 |
发明人 |
李相基 |
分类号 |
H01L21/822(2006.01);H01L21/8238(2006.01);H01L27/146(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/822(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郑小军 |
主权项 |
1.一种制造CMOS图像传感器的方法,该方法包括以下步骤:提供半导体衬底,所述半导体衬底分为PMOS区、NMOS区以及二极管区;在所述半导体衬底上形成浅沟槽隔离;仅露出所述NMOS区,并注入低密度N型杂质,以形成N型LDD区;露出所述二极管区和PMOS区,并注入杂质,以形成P型杂质区和P型LDD区;仅露出所述二极管区,并注入杂质,以形成N型杂质区;在栅极的两个侧壁上形成侧壁间隔件;仅露出所述NMOS区,并注入高密度N型杂质,以形成N型源极和漏极区;仅露出所述PMOS区,并注入高密度P型杂质,以形成P型源极和漏极区。 |
地址 |
韩国首尔 |