发明名称 具纳米晶体或纳米点的存储单元及其制造方法
摘要 储存层(6)是存在于沟道区域于其中相邻一源极/漏极区域(2)的一区域之上,以及被插入于该沟道区域(3)的一介于中间的、中心的部分。再者,该储存层(6)是由栅极介电质(4)的一材质而形成,并且,系包含通过离子注入所导入的硅、或锗纳米结晶体或纳米点。该栅极电极(5)是由导电间隙壁(7)而在侧翼处加宽。
申请公布号 CN1324711C 申请公布日期 2007.07.04
申请号 CN200410056605.9 申请日期 2004.08.11
申请人 因芬尼昂技术股份公司 发明人 M·古特斯彻;J·威尔勒;C·-U·平诺;R·斯伊曼茨克
分类号 H01L27/105(2006.01);H01L27/10(2006.01);H01L21/8239(2006.01) 主分类号 H01L27/105(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;梁永
主权项 权利要求书1.一种存储单元,包括:源极/漏极区域(2),其通过杂质的导入而形成于一半导体本体(1)或基板的一顶侧;一沟道区域(3),被设置于该源极/漏极区域(2)之间,并且,一栅极介电质(4)以及一栅极电极(5)被配置于该沟道区域(3)上;以及一储存层(6),其被配置于所述源极/漏极区域(2)以及所述沟道区域(3)之间的边界上方,且被插入于该沟道区域(3)的中心区域上方,其中,该储存层(6)由该栅极介电质(4)的一材质而形成为一平面层,并且,包含纳米结晶体或纳米点。
地址 联邦德国慕尼黑