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发明名称 Film type semiconductor package including test pad with common output channel and method thereof, test device and semiconductor device including pattern with common test channel and method thereof
摘要
申请公布号 KR100734290(B1) 申请公布日期 2007.07.02
申请号 KR20050114370 申请日期 2005.11.28
申请人 发明人
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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