电光取样装置与方法

摘要

一种电光取样装置，包括一雷射单元，产生一光信号。一极化控制器藉由光纤接收该光信号，且偏极该光信号。一电磁波信号源用以产生一待测电磁波信号。一光纤探头藉由光纤与该极化控制器耦接，且将该光信号反射通过该极化控制器。该光纤探头感测该待测电磁波信号，且依该待测电磁波信号的强度，使该被反射光信号产生对应改变的一变化量。一光学单元藉由光纤接收该被反射光信号，以将该变化量分离出来，转换成一取样信号。一无差频相移式锁相回路，连接于该雷射单元和该电磁波信号源之间，以控制该光信号对应于该待测电磁波信号的一相位差，藉由该相位差的改变，以对待测电磁波信号取样。