| 主权项 |
1.一种按压器,在电子元件处理装置用以将被测试 电子元件之端子压在测试头之接触部, 其特征在于: 包括:按压件,接触被测试电子元件;及按压器底座, 支撑该按压件; 该按压件在该按压器底座安装成不需要工具就可 拆装,该按压件在基部包括凸缘部; 在该按压器底座设置可支撑该按压件之凸缘部之 支撑部,在该支撑部之一部分形成开口部; 该按压件藉着将该凸缘部自该支撑部之开口部插 入该支撑部或自该支撑部拔出,在该按压器底座可 拆装。 2.如申请专利范围第1项之按压器,其中,该按压件 对于为了令该按压器底座支撑该按压件而在该按 压器底座所设置之支撑构件或该按压器底座利用 偏压构件压住。 3.如申请专利范围第1项之按压器,其中,该按压件 利用定位装置定位于该按压器底座。 4.如申请专利范围第1项之按压器,其中,在该按压 器底座将可向该按压件侧突出而且向该按压器底 座之内部侧可退避之突出构件设置成向该按压件 侧偏压。 5.如申请专利范围第4项之按压器,其中,在该按压 件形成在该按压器底座所设置之突出构件可卡合 之凹部。 6.如申请专利范围第1项之按压器,其中,在该按压 件将可向该按压器底座侧突出而且向该按压件之 内部侧可退避之突出构件设置成向该按压器底座 侧偏压。 7.如申请专利范围第6项之按压器,其中,在该按压 器底座形成在该按压件所设置之突出构件可卡合 之凹部。 8.如申请专利范围第1项之按压器,其中,在该按压 器底座将自设置该按压件之侧之面可突出而且向 该按压器底座之内部侧可退避之突出构件设置成 向设置该按压件之侧偏压; 该突出构件和在该按压器底座位于既定之位置之 该按压件之侧端部可卡合。 9.如申请专利范围第1项之按压器,其中,在该按压 器底座所设置之支撑部将该按压件压在该按压器 底座侧。 10.如申请专利范围第9项之按压器,其中,在该按压 器底座所设置之支撑部利用对于该按压器底座可 动之支撑构件构成; 该支撑构件利用弹性体向该按压器底座侧偏压。 11.如申请专利范围第9项之按压器,其中,在该按压 器底座所设置之支撑部利用由弹性体构成之支撑 构件构成; 该支撑构件利用该支撑构件本身之弹力将该按压 件固定于该按压器底座。 12.如申请专利范围第1项之按压器,其中,该按压件 包括在按压器底座侧变凸之凸部; 该按压件藉着将该按压件之凸部插入该按压器底 座之空间部或自该空间部拔出,在该按压器底座可 拆装,在该按压器底座将向该空间部可突出而且在 该按压器底座之内部侧可退避之突出构件设置成 向和在该空间部之该突出构件相向之壁部侧偏压 。 13.如申请专利范围第12项之按压器,其中,在该按压 件之凸部形成在该按压器底座所设置之突出构件 可卡合之凹部。 14.一种电子元件处理装置,为了测试电子元件,可 将被测试电子元件之端子压在测试头之接触部, 其特征在于: 包括在申请专利范围第1至13项中任一项所述之按 压器。 图式简单说明: 图1系包含本发明之一实施例之处理器之IC元件测 试装置之整体侧视图。 图2系该实施例之处理器之立体图。 图3系该实施例之处理器之测试室内之主要部分之 剖面图。 图4系表示在该实施例之处理器之按压器及插座附 近之构造之分解立体图。 图5系在该实施例之处理器之按压器之平面图(a)、 部分剖面正视图(b)、底视图(c)以及剖面图(d)。 图6系表示在该实施例之处理器之模型板之立体图 。 图7系在该实施例之处理器之按压器及插座附近之 剖面图。 图8系说明在该实施例之处理器之模型板之更换作 业之立体图。 图9系本发明之别的实施例之按压器之平面图(a)及 剖面图(b)。 图10系本发明之另外之实施例之按压器之平面图(a )及剖面图(b)。 图11系本发明之另外之实施例之按压器之平面图(a )、板之立体图(b)以及按压器之剖面图(c)。 图12系本发明之另外之实施例之按压器之平面图(a )及剖面图(b)。 图13系本发明之另外之实施例之按压器之平面图(a )、按压件之立体图(b)以及按压器之剖面图(c)。 |
