发明名称 电浆蚀刻方法及半导体之制造方法
摘要 提供即使在处理大型玻璃基板之时,对于含有高熔点金属材料之源极、汲极电极,亦可充分取得氮化矽膜之蚀刻选择比的蚀刻方法。其解决手段为藉由使用包含CF4和O2之处理气体而执行电浆蚀刻处理,贯通钝化膜108和闸即绝缘膜103,并一次形成到达闸极电极102之孔111,和贯通钝化膜108而到达汲极电极107之孔112。闸极绝缘膜103相对于汲极电极107表面之Mo层107c是以高蚀刻选择比被蚀刻。
申请公布号 TW200725734 申请公布日期 2007.07.01
申请号 TW095143594 申请日期 2006.11.24
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 谷口谦介;吹野康彦
分类号 H01L21/3065(2006.01);H01L21/336(2006.01);G09F9/35(2006.01) 主分类号 H01L21/3065(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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