发明名称 | 电浆蚀刻方法及半导体之制造方法 | ||
摘要 | 提供即使在处理大型玻璃基板之时,对于含有高熔点金属材料之源极、汲极电极,亦可充分取得氮化矽膜之蚀刻选择比的蚀刻方法。其解决手段为藉由使用包含CF4和O2之处理气体而执行电浆蚀刻处理,贯通钝化膜108和闸即绝缘膜103,并一次形成到达闸极电极102之孔111,和贯通钝化膜108而到达汲极电极107之孔112。闸极绝缘膜103相对于汲极电极107表面之Mo层107c是以高蚀刻选择比被蚀刻。 | ||
申请公布号 | TW200725734 | 申请公布日期 | 2007.07.01 |
申请号 | TW095143594 | 申请日期 | 2006.11.24 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 谷口谦介;吹野康彦 |
分类号 | H01L21/3065(2006.01);H01L21/336(2006.01);G09F9/35(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3065(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |