发明名称 用于阻挡层之化学机械抛光液
摘要 本发明系提供一种用于钽阻挡层之化学机械抛光液,其包括研磨颗粒A、比研磨颗粒A的尺寸大的研磨颗粒B、三唑类化合物、有机酸和载体。本发明的化学机械抛光液可以使缺陷、划伤、粘污和其它残留明显下降,且通过使用不同尺寸颗粒来调节阻挡层和氧化物层的抛光选择比,以解决两种底物的去除速率不易于各自调整的难题,而且还可以防止金属抛光过程中产生的局部和整体腐蚀,从而提高产品良率。
申请公布号 TW200724626 申请公布日期 2007.07.01
申请号 TW094145492 申请日期 2005.12.21
申请人 安集微电子有限公司 发明人 宋伟红;陈国栋;顾元;徐春;宋鹰
分类号 C09G1/02(2006.01);C09K3/14(2006.01) 主分类号 C09G1/02(2006.01)
代理机构 代理人 陶霖
主权项
地址 开曼群岛