发明名称 电容制造方法
摘要 一种电容制造方法,其包括如下步骤:提供一基板,依次沈积一第一金属层、一绝缘层及一第一光阻层;提供一第一光罩,其包括复数半透光区,利用该第一光罩对该第一光阻层曝光,并显影该第一光阻层,藉由控制该半透光区之透光率,形成厚度不同之第一光阻图案;蚀刻该第一光阻图案及部份绝缘层,形成厚度不同之绝缘层;依次沈积一第二金属层及一第二光阻层于该剩余绝缘层上;利用一第二光罩对该第二光阻层进行曝光,并显影该第二光阻层,形成第二光阻图案;蚀刻未被该第二光阻图案覆盖之部份第二金属层;去除该第二光阻图案。
申请公布号 TW200725798 申请公布日期 2007.07.01
申请号 TW094146354 申请日期 2005.12.23
申请人 群创光电股份有限公司 发明人 颜硕廷
分类号 H01L21/70(2006.01);H01L29/92(2006.01) 主分类号 H01L21/70(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 苗栗县竹南镇新竹科学园区科学路160号