发明名称 | 电容制造方法 | ||
摘要 | 一种电容制造方法,其包括如下步骤:提供一基板,依次沈积一第一金属层、一绝缘层及一第一光阻层;提供一第一光罩,其包括复数半透光区,利用该第一光罩对该第一光阻层曝光,并显影该第一光阻层,藉由控制该半透光区之透光率,形成厚度不同之第一光阻图案;蚀刻该第一光阻图案及部份绝缘层,形成厚度不同之绝缘层;依次沈积一第二金属层及一第二光阻层于该剩余绝缘层上;利用一第二光罩对该第二光阻层进行曝光,并显影该第二光阻层,形成第二光阻图案;蚀刻未被该第二光阻图案覆盖之部份第二金属层;去除该第二光阻图案。 | ||
申请公布号 | TW200725798 | 申请公布日期 | 2007.07.01 |
申请号 | TW094146354 | 申请日期 | 2005.12.23 |
申请人 | 群创光电股份有限公司 | 发明人 | 颜硕廷 |
分类号 | H01L21/70(2006.01);H01L29/92(2006.01) | 主分类号 | H01L21/70(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 苗栗县竹南镇新竹科学园区科学路160号 |