发明名称 化学机械抛光液
摘要 本发明揭露一种化学机械抛光液,其包含至少一研磨颗粒、一化学添加剂以及一载体。其中,该化学添加剂系聚羧酸类化合物及/或其盐类。本发明之化学机械抛光液可以明显降低缺陷率,提高金属表面平坦程度,显着降低金属的抛光速率,并且优化电介质的抛光速率。优化了电介质的抛光速率,扩大工艺参数窗口。
申请公布号 TW200724651 申请公布日期 2007.07.01
申请号 TW094145483 申请日期 2005.12.21
申请人 安集微电子有限公司 发明人 杨春晓;俞昌;肖正龙;荆建芬
分类号 C09K3/14(2006.01);C09G1/02(2006.01) 主分类号 C09K3/14(2006.01)
代理机构 代理人 陶霖
主权项
地址 开曼群岛