发明名称 |
用于清洗光罩之装置及方法 |
摘要 |
揭示可自光罩表面移除残余物与微粒物质的积体基材洁净制程。在一实施例中,一臭氧化去离子水处理为第一湿洁净操作。本发明一实施例中,基材洁净制程包含湿洁净操作,其系使用以氢气汽化的去离子水稀释之氢氧化铵系化学洁净溶液。本发明另一实施例中,该基材洁净制程系于实施第一湿洁净操作前,使用一电浆处理。 |
申请公布号 |
TW200725197 |
申请公布日期 |
2007.07.01 |
申请号 |
TW095132962 |
申请日期 |
2006.09.06 |
申请人 |
应用材料股份有限公司 |
发明人 |
帕帕努詹姆斯S PAPANU, JAMES S.;右克罗门;陈汉文;菲利浦彼得 |
分类号 |
G03F7/26(2006.01);B08B3/08(2006.01);C11D7/06(2006.01);C11D7/60(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/26(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财;李世章 |
主权项 |
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地址 |
美国 |