Verfahren und System zum Bestimmen und Quantifizieren von spezifischen Spurenelementen in Proben von komplexen Materien

摘要

Ein System zum Bestimmen und Quantifizieren spezifischer Spurenelemente in Proben von komplexen Materialien, wobei das System eine an ein Fouriertransformations-Ionenzyklotronresonanz-Massenspektrometer (FT-ICR-MS) (2) gekoppelte Laserablations-(LA)-Vorrichtung (1) mit einem Massenbereich von mindestens 2 bis 300 amu und eine Massenauflösung von mindestens 8000 für 300 amu umfaßt.