发明名称 Verfahren zur Herstellung von nichtflüchtigen Speicherzellen
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von nicht-flüchtigen Speicherzellen. Ein Halbleiter-Wafer wird bereitgestellt, der eine Ladungsfängerschicht und eine leitende Schicht aufweist, die auf der Oberfläche des Halbleiter-Wafers aufgebracht werden. Unter Verwendung einer Maskenschicht auf der leitenden Schicht werden Kontaktlöcher ausgebildet, in die ein Kontakt-Füllmaterial aufgebracht wird. Eine weitere leitende Schicht wird auf der Oberfläche des Halbleiter-Wafers aufgebracht und so strukturiert, dass Wortleitungen ausgebildet werden. Das Kontakt-Füllmaterial wird mit einem Kontaktstöpsel unter Verwendung der Kontaktlöcher verbunden.
申请公布号 DE102006008503(A1) 申请公布日期 2007.06.28
申请号 DE200610008503 申请日期 2006.02.23
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 MUELLER, TORSTEN;OLLIGS, DOMINIK;KUESTERS, KARL-HEINZ;MIKOLAJICK, THOMAS;POLEI, VERONIKA;WILLER, JOSEF
分类号 H01L21/8247;G11C16/00 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
地址