发明名称 |
Verfahren zur Herstellung von nichtflüchtigen Speicherzellen |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von nicht-flüchtigen Speicherzellen. Ein Halbleiter-Wafer wird bereitgestellt, der eine Ladungsfängerschicht und eine leitende Schicht aufweist, die auf der Oberfläche des Halbleiter-Wafers aufgebracht werden. Unter Verwendung einer Maskenschicht auf der leitenden Schicht werden Kontaktlöcher ausgebildet, in die ein Kontakt-Füllmaterial aufgebracht wird. Eine weitere leitende Schicht wird auf der Oberfläche des Halbleiter-Wafers aufgebracht und so strukturiert, dass Wortleitungen ausgebildet werden. Das Kontakt-Füllmaterial wird mit einem Kontaktstöpsel unter Verwendung der Kontaktlöcher verbunden.
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申请公布号 |
DE102006008503(A1) |
申请公布日期 |
2007.06.28 |
申请号 |
DE200610008503 |
申请日期 |
2006.02.23 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
MUELLER, TORSTEN;OLLIGS, DOMINIK;KUESTERS, KARL-HEINZ;MIKOLAJICK, THOMAS;POLEI, VERONIKA;WILLER, JOSEF |
分类号 |
H01L21/8247;G11C16/00 |
主分类号 |
H01L21/8247 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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