| 发明名称 | 选择性测试方法及其测试设备 | ||
| 摘要 | 提供了一种选择性测试方法及其设备。所述选择性测试方法包括：存储包括由测试脚本执行的一个或多个测试项的测试信息；如果选择所述测试项之一，则存储选择的包括选择的测试项的测试信息；将存储的测试信息与存储的选择的测试信息进行比较；和如果确定所述测试信息与选择的测试信息相同，则执行与选择的测试项相应的测试脚本。因此，用于让用户容易地识别测试脚本的接口被提供，从而可根据各种项执行选择性测试，而不依赖于某个自动测试工具。 | ||
| 申请公布号 | CN1987819A | 申请公布日期 | 2007.06.27 |
| 申请号 | CN200610080904.5 | 申请日期 | 2006.05.22 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 李在甲;金智贤 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01);H04L12/26(2006.01) | 主分类号 | G06F11/36(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;冯敏 |
| 主权项 | 1、一种选择性测试方法，包括：存储包括由测试脚本执行的一个或多个测试项的测试信息；选择所述测试项之一；存储选择的包括选择的测试项的测试信息；将存储的测试信息与存储的选择的测试信息进行比较；和如果确定所述测试信息与所述选择的测试信息相同，则执行与选择的测试项相应的测试脚本。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道水原市灵通区梅滩3洞416 | ||