发明名称 |
光头设备 |
摘要 |
用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107,使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面,以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度,以补偿半导体激光器的像散差。此外,把光电检测器沿这样的方向放置,从而使反射光108被弯折,减小了调整光反射元件时它的平移量。 |
申请公布号 |
CN1323392C |
申请公布日期 |
2007.06.27 |
申请号 |
CN200410004045.2 |
申请日期 |
2000.04.24 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
麻田润一;西胁表见;高桥雄一;长岛贤治;松宫宽昭;齐藤阳一;百尾和雄 |
分类号 |
G11B7/12(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/12(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
钱慰民 |
主权项 |
1.一种光头设备,包括:半导体激光器光源;光电检测器,它接收来自所述半导体激光器光源的一部分光;光反射元件,它具有周边部分和中心部分,所述周边部分反射来自所述半导体激光器光源的光的周边光,并将它会聚入所述光电检测器,而所述中心部分透射来自所述半导体激光器光源的中心光;会聚透镜,它把透过所述光反射元件的光会聚在光盘上;以及信号检测器,用于检测从所述光盘反射回的光信号;其特征在于:所述光反射元件的中心部分的两个表面中的每一个表面都具有平坦形状;经所述光反射元件的周边部分反射并会聚后的光具有球差。 |
地址 |
日本国大阪府门真市 |