发明名称 兼顾取向和非取向晶体分析的XRD样品台装置
摘要 本实用新型公开了一种兼顾取向性和非取向性晶体试样分析的XRD样品台装置。它保留了X衍射仪常规测试的样品台主体,又在同底座的一侧增加了适合取向性样品测试的旋转定向装置,其装置由可控调速直流步进电机、镶有永磁体的轴套、可取下来装样品的钢件吸盘和有孔的刻度盘组成。在安装电机支撑架时保证了吸盘端面处于XRD聚焦圆的切线上,因而不需要重新调节仪器零点,仅改变试样装填方式,通过键盘操作就可随时选择常规测试或旋转定向测试,实现涵盖粉末多晶的常规分析和取向性样品的评价以及单晶定向功能。本实用新型克服了现有仪器对取向性晶体快速评价的不足,也解决了现有单晶定向仪对未知晶轴、大晶向偏离角单晶定向测试的难题。
申请公布号 CN2916626Y 申请公布日期 2007.06.27
申请号 CN200620079376.7 申请日期 2006.07.13
申请人 郭振琪 发明人 郭振琪
分类号 G01N23/207(2006.01) 主分类号 G01N23/207(2006.01)
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 代理人 刘国智
主权项 1.一种兼顾取向性和非取向性晶体分析的XRD样品台装置,包括底座(1)、定位块(2)、设置在底座(1)中心的样品台轴体(3),在轴体(3)上部与半园柱垂直切面垂直的轴体水平面(17)上设置的一弹片(4),其特征是,在底座样品台轴体(3)一侧设置有支撑架(11),该支撑架(11)上部固定有直流步进电机(10),其电机轴上设置有轴套(9),轴套端面(7)与测试时安装在样品台轴体(3)半园柱垂直面上的试样架(6)相对。
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