发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明涉及一种具有衬底(11)和半导体主体(12)的半导体装置(10),该半导体装置包括垂直双极晶体管,该双极晶体管具有分别为第一导电类型的发射极区(1)、与第一导电类型相反的第二导电类型的基极区(2)、以及第一导电类型的集电极区(3),其中该集电极区(3)包括邻接于该基极区(2)的第一子区(3A)和邻接于该第一子区(3A)的第二子区(3B),第一子区(3A)的掺杂浓度低于该第二子区(3B)的掺杂浓度,且该晶体管设有横向邻接于该第一子区(3A)的栅电极(5),该第一子区(3A)通过该栅电极可以被耗尽。根据本发明,该集电极区(3)邻接于该半导体主体(12)的表面,而该发射极区(1)凹陷于该半导体主体(12)内,且该集电极区(3)形成了在该半导体主体(12)表面处形成的平台结构(6)的一部分。这种装置(10)具有非常有利的高频和高压性能,并且容易制造。在一个优选实施方案中,集电极(3)包括形成平台结构(6)的纳米线(30)。
申请公布号 CN1989621A 申请公布日期 2007.06.27
申请号 CN200580024422.1 申请日期 2005.07.07
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 G·A·M·胡尔克斯;P·阿加瓦尔;E·希岑;R·J·E·赫廷
分类号 H01L29/08(2006.01);H01L29/06(2006.01);H01L29/423(2006.01);H01L29/737(2006.01) 主分类号 H01L29/08(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 康正德;魏军
主权项 1.一种具有衬底(11)和半导体主体(12)的半导体装置(10),该半导体装置包括垂直双极晶体管,该双极晶体具有分别为第一导电类型的发射极区(1)、与第一导电类型相反的第二导电类型的基极区(2)、以及第一导电类型的集电极区(3),其中该集电极区(3)包括邻接于该基极区(2)的第一子区(3A)和邻接于该第一子区(3A)的第二子区(3B),第一子区(3A)的掺杂浓度低于该第二子区(3B)的掺杂浓度,且该晶体管被设有横向邻接于该第一子区(3A)的栅电极(5),该第一子区(3A)通过该栅电极可以被耗尽,其特征在于,该集电极区(3)邻接于该半导体主体(12)的表面,而该发射极区(1)凹陷于该半导体主体(12)内,且该集电极区(3)形成了在该半导体主体(12)的表面处形成的平台结构(6)的一部分。
地址 荷兰艾恩德霍芬