| 主权项 |
1.一种缩短光程之光学系统,包含: 一成像透镜; 一物,系具有一原物件与一等效物件,该原物件与 该成像透镜间隔一原物距,且该原物件透过该成像 透镜产生一原影像;及 一等效透镜,系置于该物与该成像透镜之间,且该 等效透镜与该等效物件间隔一次物距,且该等效物 件透过该成像透镜与等效透镜产生次影像,且该次 影像与该原影像大小相同,进而使该等效物件取代 该原物件,且使该原物距缩短为该次物距。 2.如申请专利范围第1项所述之缩短光程之光学系 统,其中该等效透镜与该成像透镜间隔一物距,改 变该物距,进而改变该原物距与该原物件,即代表 该等效物件与该次物距等效于改变后之该原物距 与该原物件。 3.如申请专利范围第1项所述之缩短光程之光学系 统,其中该原物距与次物距之关系为: 其中:S2为该原物距, S1为该次物距, f2为该等效透镜之焦距, f1为该成像透镜之焦距, d为该等效透镜与该成像透镜之间距。 4.一种缩短光程之镜头成像品质检测系统,包含: 一检测板; 一待测透镜,系与该检测板间隔一原物距; 一影像感测元件,系与该待测透镜间隔一像距,且 该检测板透过该待测透镜成像于该影像感测元件, 使该影像感测元件产生一影像讯号; 一影像处理装置,系连接该影像感测元件,且该影 像处理装置接收该影像讯号,并分析该影像讯号, 以评量该待测透镜之成像品质;及 一等效透镜,系装置于该检测板与该待测透镜之间 ,以缩小该检测板之尺寸,进而可等效于该检测板 位于该原物距时之尺寸,且该等效透镜与该检测板 间隔一次物距,而且该等效透镜与该待测透镜亦间 隔一间距,经由调整该次物距与该间距,使该检测 板可等效未加入该等效透镜时,位于某一位置所需 之该检测板之尺寸。 5.如申请专利范围第4项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该检测板为一符合USAF1951之 透镜检测图。 6.如申请专利范围第4项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该待测透镜为一数位相机取 像镜头。 7.如申请专利范围第4项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该影像感测元件系为一电荷 藕合元件(CCD),该电荷藕合元件接受该检测板透过 该等效透镜与该待测透镜所成之像,而产生该影像 讯号。 8.如申请专利范围第4项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该影像感测元件系为一互补 金属氧化半导体影像感测器(CMOS image sensor)该互补 金属氧化半导体影像感测器接受该检测板透过该 等效透镜与该待测透镜所成之像,而产生该影像讯 号。 9.一种缩短光程之镜头成像品质检测系统,包含: 一待测透镜; 一原检测板,系与该待测透镜间隔一原物距,且该 虚拟检测板透过该待测透镜产生一原影像; 一影像感测元件,系接受该原影像,进而使该影像 感测元件产生一影像讯号; 一影像处理装置,系接收该影像讯号,并分析该影 像讯号,以评量该待测透镜之成像品质; 一等效检测板,系置于该原检测板与该待测透镜之 间;及 一等效透镜,系置于该等效检测板与该待测透镜之 间,且该等效透镜与该等效检测板间隔一次物距, 当该等效检测板位于该次物距时,该等效检测板透 过该等效透镜与该待测透镜而产生一新影像,该新 影像与该原影像大小相同。 10.如申请专利范围第9项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该等效检测板为一符合USAF 1951之透镜检测图。 11.如申请专利范围第9项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该待测透镜为一数位相机取 像镜头。 12.如申请专利范围第9项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该影像感测元件系为一电荷 藕合元件(CCD),该电荷藕合元件接受该等效检测板 透过该等效透镜与该待测透镜所成之像,而产生该 影像讯号。 13.如申请专利范围第9项所述之缩短光程之镜头成 像品质检测系统,其中该影像感测元件系为一互补 金属氧化半导体影像感测器(CMOS image sensor),该互 补金属氧化半导体影像感测器接受该等效检测板 透过该等效透镜与该待测透镜所成之像,而产生该 影像讯号。 图式简单说明: 「第1图」系显示习用镜头成像品质检测架构图。 「第2图」系显示本发明之缩短光程之光学系统架 构图。 「第3图」系显示本发明之缩短光程之镜头成像品 质检测架构图。 「第4图」系显示本发明之检测板示意图。 |
