发明名称 Einrichtung zur Visualisierung von Objekteigenschaften
摘要 Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung betrifft eine Visualisierungseinrichtung (16) mit einem Projektor, der dazu ausgebildet ist, positionsgerichtet zu projizieren, mit einem Dateneingang, der dazu ausgebildet ist, Positions-Angaben und zugehörige positionsspezifische Objekteigenschafts-Information zu empfangen, und mit einer Steuerungseinrichtung (10, 14), die eingangsseitig mit dem Dateneingang und ausgangsseitig mit dem Projektor verbunden und dazu ausgebildeet ist, den Projektor derart zu steuern, dass dieser eine Visualisierung einer von dem Dateneingang empfangenen positionsspezifischen Objekteigenschafts-Information positionsgerichtet projiziert. Ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung betrifft eine Abtasteinrichtung (1, 2, 3) mit einer solchen Visualisierungseinrichtung (16), umfassend eine Primärstrahlquelle, einen Sekundärstrahl-Detektor (5, 6), der dazu ausgebildet ist, von einem Objekt (20, 21) durch Auftreffen von Primärstrahlung erzeugte Sekundärstrahlung zu detektieren, und eine Auswerteeinrichtung, die in Abhängigkeit von einem Detektieren durch den Sekundärstrahl-Detektor (5, 6) Positions-Angabe und zugehörige positionsspezifische Objekteigenschafts-Information ermittelt und an den Dateneingang der Visualisierungseinrichtung (16) übermittelt. Damit wird es ermöglicht, Objekteigenschafts-Informationen zu einer bestimmten Position an oder auf dem Objekt mit direktem räumlichen Bezug zu dieser Position auf das Objekt zu projizieren.
申请公布号 DE102005060311(A1) 申请公布日期 2007.06.21
申请号 DE20051060311 申请日期 2005.12.16
申请人 SIEMENS AG 发明人 WEDEL, MATTHIAS
分类号 G02B26/10;G01N21/88;G01N23/22;G03B21/00 主分类号 G02B26/10
代理机构 代理人
主权项
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