发明名称 一种多模式原子力探针扫描系统
摘要 一种多模式原子力探针扫描系统,属于纳米表面检测技术领域。为了能同时满足高分辨率和大范围检测的要求,本发明公开了一种多模式原子力探针扫描系统,包括光学测量单元、扫描探测单元和伺服控制单元三个部分,所述扫描探测单元包括承载样品的受伺服控制单元驱动的扫描台、微调机构、设在所述微调机构之上的压电双晶片,以及末端固定在压电双晶片上、探测端对应样品设置的微悬臂探针;所述微悬臂探针背面处于所述光学测量单元的光探针会聚点处,并与光探针轴线相垂直;所述压电双晶片由伺服控制单元控制,驱动微悬臂探针以接触式、非接触式或轻敲式三种模式之一进行探测。本发明可以实现大视场、纳米尺度超精表面缺陷检测。
申请公布号 CN1322323C 申请公布日期 2007.06.20
申请号 CN200510011612.1 申请日期 2005.04.22
申请人 清华大学 发明人 李玉和;王东生;李庆祥;葛杨翔
分类号 G01N13/16(2006.01) 主分类号 G01N13/16(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种多模式原子力探针扫描系统,其特征在于:所述系统包括光学测量单元(100)、扫描探测单元(200)和伺服控制单元(300)三个部分,所述扫描探测单元(200)包括承载样品的受伺服控制单元(300)驱动的扫描台(24)、微调机构(23)、设在所述微调机构(23)之上的压电双晶片(22),以及末端固定在压电双晶片(22)上、探测端对应样品设置的微悬臂探针(21);所述微悬臂探针(21)背面处于所述光学测量单元(100)的光探针会聚点处,并与光探针轴线相垂直;所述压电双晶片(22)由伺服控制单元(300)控制,驱动微悬臂探针(21)以接触式、非接触式或轻敲式三种模式之一进行探测;所述微调机构(23)包括支承底座(401)、下端与支承底座(401)固定连接,上端与连接板(403)固定连接的倾斜支架(402)、分别从两侧连接支承底座(401)和连接板(403)的右倾斜调整螺丝(404)和左倾斜调整螺丝(405)、固定于连接板(403)上的俯仰支架(407)、连接俯仰支架(407)和连接板(403)的俯仰调整螺丝(408),以及将楔块(410)、压电双晶片(22)和微悬臂探针(21)固定在俯仰支架(407)前端凹槽内的弹簧片(409);倾斜支架(402)和俯仰支架(407)采用柔性铰链机构,实现微悬臂探针(21)倾斜度与俯仰度调整。
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