已安装在测试卡上之探针表面处理方法

摘要

本发明系在提供一种已安装在测试卡上之探针表面处理方法，主要系在测试卡上之探针在使用前或使用后，藉由将探针表面施予镀膜处理，于表面形成覆膜，该覆膜材质依需求不同可为金属或合金或非金属材质，以达到可修补、减少异物附着、增加导电性或绝缘性，防止电磁干扰者。