发明名称 光学测量系统
摘要 一种光学测量系统,用于待测物体之位移测量或振动测量,该系统包括:一向待测物体表面发射雷射光之光源;一光电敏感元件,该光电敏感元件包括一由感光单元阵列构成之光接收面,用于接收被待测物体表面反射之雷射光;及一扩束透镜组,其位于反射雷射光之行进路径上,且该扩束透镜组具有一与反射雷射光平行之光轴。本发明之光学测量系统测量精度高,且可测量较小之位移。
申请公布号 TW200722716 申请公布日期 2007.06.16
申请号 TW094142500 申请日期 2005.12.02
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 简扬昌
分类号 G01H9/00(2006.01) 主分类号 G01H9/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 台北县土城市自由街2号