发明名称 非挥发性记忆体的制造方法
摘要 一种非挥发性记忆体的制造方法,首先在基底上形成穿隧介电层。然后,于穿隧介电层上形成多个矽奈米点。接着,进行金属矽化制程,以使这些矽奈米点转变成多个金属矽化物奈米点。随后,于基底上依序形成介电层与导体层,以覆盖这些金属矽化物奈米点与穿隧介电层。继之,图案化导体层、介电层、金属矽化物奈米点与穿隧介电层,以形成闸极结构。然后,于闸极结构两侧之基底中形成源极/汲极区。
申请公布号 TW200723437 申请公布日期 2007.06.16
申请号 TW094142751 申请日期 2005.12.05
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 朱志勋
分类号 H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L21/76(2006.01)
代理机构 代理人 王宗梅
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼