发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种具有可增加耐热性之WPL结构之半导体装置,且一分布在一PI膜上之屏障层与一晶片用Si基板系形成在该Si基板与一密封树脂之间,以包围该晶片之所有侧。该屏障层之材料系选择可在该屏障层与该Si基板之间、在该屏障层与该PI膜之间、及在该屏障层与该密封树脂之间得到良好之黏着力者。因此,即使一裂缝出现在该半导体装置一侧上之一部份处,即,该Si基板与该密封树脂在加热环境下结合处,该裂缝亦不会延伸至该屏障层内侧。这可防止该密封树脂剥离或在该晶片内发生剥离,并且维持该半导体装置之效能。
申请公布号 TW200723468 申请公布日期 2007.06.16
申请号 TW095108123 申请日期 2006.03.10
申请人 富士通股份有限公司 发明人 野圭司;爱场喜孝
分类号 H01L23/28(2006.01);H01L21/50(2006.01) 主分类号 H01L23/28(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本