记忆体测试治具

摘要

一种记忆体测试冶具，系应用于具有电性连接端之记忆体之电性测量，该记忆体测试治具包括有：第一连接部，具有用以与该电性连接端电性连接之第一导电结构；第二连接部，具有与外部装置电性连接之第二导电结构；以及与该第一连接部以及该第二连接部结合之侧量部，该侧量部系与第一导电结构及第二导电结构电性连接并局部外露于该记忆体测试冶具，藉此快速、准确地对记忆体之电性进行测量，以解决知技术之缺失。