| 发明名称 | 测试或分析集成电路的方法和系统 | ||
| 摘要 | 在第一方面中，提供了一种测试或分析集成电路(IC)的方法。该方法包括以下步骤：(1)根据描述所述集成电路的网表来生成与所述集成电路的组件之间的相依性有关的信息；以及(2)通过以下步骤中的至少一个步骤来简化所生成的信息：(a)合并与具有公共相依性的组件有关的信息的各部分；以及(b)除去与不依赖于所述集成电路的其他组件的至少第一组件有关的信息的部分。还提供了许多其他方面。 | ||
| 申请公布号 | CN1979206A | 申请公布日期 | 2007.06.13 |
| 申请号 | CN200610168919.7 | 申请日期 | 2006.11.14 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | C·B·麦克布莱德;K·H·哈塞尔霍斯特;L·E·格罗斯巴赫;Q·G·施麦尔 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/303(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 于静;李峥 |
| 主权项 | 1.一种测试或分析集成电路IC的方法，所述方法包括：根据描述所述集成电路的网表来生成与所述集成电路的组件之间的相依性有关的信息；以及通过以下步骤中的至少一个步骤来简化所生成的信息：合并与具有公共相依性的组件有关的信息的各部分；以及除去与不依赖于所述集成电路的其他组件的至少第一组件有关的信息的部分。 | ||
| 地址 | 美国纽约 | ||