| 发明名称 | 精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法，测试嵌入式闪存的所有管脚，通过一个串－并转换逻辑和一个并－串转换逻辑将所述嵌入式闪存的并行接口转换为串行接口引出，闪存的所有地址信号、数据信号及控制信号通过串行方式输入，闪存读出数据及状态响应信号通过串行方式输出。本发明在实现嵌入式闪存可测性的同时，大大减少了芯片管脚数量，节省了芯片面积，从而降低了芯片成本。 | ||
| 申请公布号 | CN1979687A | 申请公布日期 | 2007.06.13 |
| 申请号 | CN200510111285.7 | 申请日期 | 2005.12.08 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 曾志敏;桑浚之 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01);G11C16/06(2006.01);H01L21/66(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 1、一种精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法，测试嵌入式闪存的所有管脚，其特征是，将所述嵌入式闪存的并行接口转换为串行接口引出，闪存的所有地址信号、数据信号及控制信号通过串行方式输入，闪存读出数据及状态响应信号的通过串行方式输出。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||