发明名称 电子装置的测试与除错的系统与方法
摘要 一种应用于测试主机的电子装置的测试与除错方法。测试主机与电子装置通过连结端口来连结。本方法包括下列步骤。本方法始于当测试主机处于指令模式。测试主机发出测试指令至电子装置。于电子装置执行测试指令期间,测试主机接收相应于测试指令的一系列回复信号。当测试主机检测出回复信号为执行记录时,测试主机转换至除错模式来监控执行测试指令的电子装置。当测试主机从回复信号中提取出测试结果时,测试主机转换至指令模式来接收测试结果以及发出另一个测试指令或停止测试及除错。
申请公布号 CN1979672A 申请公布日期 2007.06.13
申请号 CN200610142782.8 申请日期 2006.10.31
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 詹政哲
分类号 G11B20/18(2006.01);G06F11/00(2006.01);G06F11/28(2006.01);G06F11/30(2006.01) 主分类号 G11B20/18(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 田野
主权项 1.一种电子装置的测试与除错方法,应用于测试一电子装置的一测试主机中,上述测试主机与上述电子装置通过一连结端口来连结,上述方法包括:激活一指令模式;发出一测试指令至上述电子装置;于上述电子装置执行上述测试指令时,接收相应于上述测试指令的一系列回复信号;当检测出上述回复信号为一执行记录时,转换至一除错模式来监控执行上述测试指令的上述电子装置;以及当从上述回复信号中提取出一测试结果时,转换至一指令模式来接收上述测试结果以及发出另一测试指令或停止测试与除错。
地址 台湾省新竹科学工业园区