发明名称 |
Method for quantitative measurement of deposits on solid surfaces |
摘要 |
<p>Beschrieben wird ein Verfahren zur quantitativen Messung von Ablagerungen auf festen Oberflächen die beim Filming auftreten wobei ein dünner Wasserfilm gleichmäßig abtrocknet, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche zur Messung als planer Prüfling (2) ausgebildet ist, vorzugsweise in Form einer rechteckigen oder runden Platte, und mit sichtbarem Licht aus einer Lichtquelle (3a) bestrahlt wird, wobei das von dem Prüfling (2) gestreute Licht von einer Kamera (4) aufgefangen wird und das so gewonnen Bild computergestützte ausgewertet wird.
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申请公布号 |
EP1790973(A3) |
申请公布日期 |
2007.06.13 |
申请号 |
EP20070005331 |
申请日期 |
2004.09.10 |
申请人 |
COGNIS IP MANAGEMENT GMBH |
发明人 |
WEUTHEN, MANFRED;BOEHME, CORINNA;FRISCHEMEIER, ROBERT |
分类号 |
G01N21/47;A47L15/42;G01N21/94;G01N21/958 |
主分类号 |
G01N21/47 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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