| 发明名称 | 样品的质量分析方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明包括对独立样品容器(18，18')中所含的一阵列样品中的每一个进行质量分析的装置和方法。样品容器(18，18')置于或悬挂在多个传感器(19，19'，19"，19" ')上，这些传感器优选包括微量天平阵列，微量天平阵列提供包括该样品阵列的质量数据的输出信号。 | ||
| 申请公布号 | CN1980739A | 申请公布日期 | 2007.06.13 |
| 申请号 | CN200580022251.9 | 申请日期 | 2005.06.30 |
| 申请人 | 环球油品公司 | 发明人 | R·文德尔博;D·E·阿克波力亚;A·卡尔松;I－R·乔安森;I·M·达尔;B·G·菲斯曼;R·布洛姆;D·T·王;M·古里克森;M·普拉森 |
| 分类号 | B01L3/00(2006.01);G01N27/00(2006.01);G01N33/00(2006.01) | 主分类号 | B01L3/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 林柏楠;刘金辉 |
| 主权项 | 1.对一阵列样品中的每一个进行质量分析的装置，其包括一阵列独立的容纳样品的样品容器(18，18’)，放置这些容器使其与多个传感器(19，19’，19”，19)相互作用，所述传感器提供包括该样品阵列的质量数据的输出信号。 | ||
| 地址 | 美国伊利诺伊 | ||