发明名称 | 一种采用模拟方法实现的电平检测电路 | ||
摘要 | 本发明公开了一种采用模拟方法实现的电平检测电路,它可以检测锁相环电路锁定情况,可以利用该电路结合一定的逻辑功能模块,就可以实现对锁相环电路锁定时间的判定。它包括低通滤波器、基准电压发生器、两个比较器、锁存器,所述的低通滤波器主要是将来自锁相环电路的非线性变化信号的毛刺滤除,提取信号的直流和低频分量,所述基准电压发生器产生所述两个比较器所需要的偏置电压信号以及两个比较器输入端所需要的比较信号,所述比较器是将经过所述低通滤波器后的非线性变化信号同由所述基准电压发生器所产生的两个电压信号相比较,并返回逻辑0或1,所述锁存器是将两个比较器的逻辑信号锁存或跳变。 | ||
申请公布号 | CN1980065A | 申请公布日期 | 2007.06.13 |
申请号 | CN200510111295.0 | 申请日期 | 2005.12.08 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 朱红卫;刘天伟;温建新;童红亮 |
分类号 | H03L7/08(2006.01) | 主分类号 | H03L7/08(2006.01) |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 1、一种采用模拟方法实现的电平检测电路,其特征在于,它包括低通滤波器、基准电压发生器、两个比较器、锁存器,所述的低通滤波器主要是将来自锁相环电路的非线性变化信号的毛刺滤除,提取信号的直流和低频分量,所述基准电压发生器产生所述两个比较器所需要的偏置电压信号以及两个比较器输入端所需要的比较信号,所述比较器是将经过所述低通滤波器后的非线性变化信号同由所述基准电压发生器所产生的两个电压信号相比较,并返回逻辑0或1,所述锁存器是将两个比较器的逻辑信号锁存或跳变。 | ||
地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 |