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发明名称 Automatisoitu instrumentointi ja menetelmä näytteiden mittaamiseksi
摘要
申请公布号 FI20075439(A0) 申请公布日期 2007.06.12
申请号 FI20070005439 申请日期 2007.06.12
申请人 WALLAC OY, 发明人 HEINONEN,AARNE;KARUNEN,JUHA;KORPI,JARMO;NURMI,JARMO;OJALA,MARKKU;SALONEN,JANNE;SALMINEN,TIMO;TORSTI,ILARI;VARJONEN,MARKKU;WHITE,PAUL
分类号 G01N 主分类号 G01N
代理机构 代理人
主权项
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