摘要 |
Es wird eine Testkopfeinrichtung zum Testen der Funktionsfähigkeit einer Vielzahl von in Smart-Labels (17) angeordneten RFID-Chips innerhalb einer Smart-Label- Fertigungsvorrichtung mittels eines Datenlese- und/oder Datenschreibvorganges gezeigt, wobei die Smart-Labels (17) mit jeweils einer ersten Antenne (10a - 1 Oe) neben- und hintereinander auf einem gemeinsamen fortlaufenden Band aufgebracht sind, wobei die Testkopfeinrichtung eine Mehrzahl von in ihrer Funktion voneinander unabhängigen Testsystemen bestehend aus jeweils einer Schreib- und/oder Leseeinheit (12a - e), jeweils einer damit verbundenen zweiten Antenne (3, 1 1 a - e; 18), die jeweils einer der ersten Antennen (10a - 1 Oe) zur gleichzeitigen Übertragung von Lese- und/oder Schreibdaten zwischen den ersten und zweiten Antennen (10a - 10e; 3; 1 1 a - e; 18) mittels Ultrahochfrequenzwellen zugeordnet sind, und einer gemeinsamen, zumindest in Höhenrichtung verschiebbaren Tischeinheit aufweist, wobei die zweiten Antennen (3; 1 1 a - e; 18) auf einer gemeinsamen, parallel zum Band ausgerichteten Antennenträgerplatte (2) angeordnet sind.
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