| 发明名称 | 大规模集成电路检查装置及其方法 | ||
| 摘要 | 一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、上述检查对象LSI根据上述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向上述LSI测试仪输出的LSI检查装置，上述LSI检查装置包括与上述检查对象LSI连接的、进行和上述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路、和装入了上述周边电路的印刷电路板。 | ||
| 申请公布号 | CN1320368C | 申请公布日期 | 2007.06.06 |
| 申请号 | CN03127857.4 | 申请日期 | 2003.08.12 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 伊藤亘;金光朋彦;山下武;渡边昭彦 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01R31/3183(2006.01);G01R31/319(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪惠民 |
| 主权项 | 权利要求书1.一种LSI检查装置，是将LSI测试仪输出的试验信号向检查对象LSI供给、所述检查对象LSI根据所述试验信号进行处理、将所产生的试验结果信号向所述LSI测试仪输出的LSI检查装置，其特征是所述LSI检查装置包括：与所述检查对象LSI连接的、进行和所述检查对象LSI实际使用时相同的动作的周边电路；第一时钟发生器，用于产生第一时钟，作为检查对象LSI的实动作的基准时钟；第二时钟发生器，用于产生第二时钟，用于使检查对象LSI从LSI测试仪中获得试验信号；第三时钟发生器，用于产生第三时钟，用于使检查对象LSI输出试验结果信号，其中第一时钟、第二时钟和第三时钟为彼此异步时钟；以及装入了所述周边电路、以及第一、第二和第三时钟发生器的印刷电路板。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||