发明名称 高介电常数微波介质陶瓷及其制备方法
摘要 本发明公开了一种微波介质陶瓷及其制备方法,原料组分及摩尔百分比含量为,Ag<SUB>2</SUB>O40-60%、Nb<SUB>2</SUB>O<SUB>5</SUB> 10-40%、Ta<SUB>2</SUB>O<SUB>5</SUB> 10-40%,在此基础上,外加重量百分比含量为1.0-5.0%的Gd<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>或1.0-5.0%的Dy<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>。采用预合成前驱体的方法,经一次球磨、预烧、二次配料、二次球磨,制成Ag(Nb<SUB>1-x</SUB>Ta<SUB>x</SUB>)O<SUB>3</SUB>陶瓷原粉,最后在1130-1150℃烧结。本发明所提供的微波介质陶瓷具有烧结温度低,介电常数高(ε>400)、介电损耗低(tgδ<10×10<SUP>-4</SUP>)的优良性能,并且制备工艺简单、制备过程无污染。本发明用于制备高频介质器件。
申请公布号 CN1975939A 申请公布日期 2007.06.06
申请号 CN200610129844.1 申请日期 2006.12.04
申请人 天津大学 发明人 李玲霞;赵晶;郭锐;王洪茹
分类号 H01B3/12(2006.01);H01G4/12(2006.01);C04B35/01(2006.01);C04B35/622(2006.01) 主分类号 H01B3/12(2006.01)
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人 曹玉平
主权项 1.一种高介电常数微波介质陶瓷,其特征在于,其原料组分及摩尔百分比含量为,Ag2O40-60%、Nb2O5 10-40%、Ta2O5 10-40%,在此基础上,外加重量百分比含量为1.0-5.0%的Gd2O3 或者1.0-5.0%的Dy2O3。
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