发明名称 | 芯片级硅穿孔散热结构 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种芯片级硅穿孔散热结构,包括倒装裸芯片(1),其特征在于:a.于倒装裸芯片(1)背面对芯片硅材料穿盲孔(5)至焊垫金属区,b.盲孔(5)表面及芯片背面覆有金属膜(2)层,c.覆有金属膜(2)层的倒装裸芯片(1)背面复有导热金属层(3),该导热金属层(3)充填至盲孔(5)内。本实用新型改变传统间接散热方式,以倒装封装工艺,使裸芯片经硅穿孔后充填金属或导热胶等,使芯片直接散热。该直接散热方式芯片热量散发快,芯片性能稳定,使用寿命长。 | ||
申请公布号 | CN2909521Y | 申请公布日期 | 2007.06.06 |
申请号 | CN200620073202.X | 申请日期 | 2006.05.26 |
申请人 | 江阴长电先进封装有限公司 | 发明人 | 王新潮;赖志明 |
分类号 | H01L23/36(2006.01) | 主分类号 | H01L23/36(2006.01) |
代理机构 | 江阴市同盛专利事务所 | 代理人 | 唐纫兰 |
主权项 | 权利要求书1、一种芯片级硅穿孔散热结构,包括倒装裸芯片(1),其特征在于:a、于倒装裸芯片(1)背面对芯片硅材料穿盲孔(5)至焊垫金属区,b、盲孔(5)表面及芯片背面覆有金属膜(2)层,c、覆有金属膜(2)层的倒装裸芯片(1)背面复有导热金属层(3),该导热金属层(3)充填至盲孔(5)内。 | ||
地址 | 214431江苏省江阴市滨江中路275号 |