发明名称 表面成型设备和获得数据方法,数据处理设备及其相关器
摘要 沿采样路径(SP)朝向样品表面(7)并且沿参考路径(RP)朝向参考表(6)引导来自于宽带源的光线,如此使得样品表面区域反射的光线与参考表面反射的光线相干涉。移动器(11)在样品表面(7)和参考表面(6)之间沿扫描路径实现相对移动。检测器(10)以一定间隔感测光强以便提供一系列强度值,其表示样品表面区域产生的干涉条纹。数据处理器具有当前处理部件(34a;340),用于在测量操作期间当接收装置接收到强度值时对强度值执行处理,以便产生表明相干峰值位置的数据,以及后续处理部件(34b;350),在完成测量操作之后,使用由并行部件产生的数据来获得表明表面区域高度的数据。其中一个处理部件具有相关器(44;440),用于将强度值与表示相关函数的相关函数数据相关,以便提供相关数据来识别相干峰值的位置。所述后续处理部件具有表面形貌确定器(35;350),用于根据相干峰值位置数据来确定样品表面区域的高度。
申请公布号 CN1320334C 申请公布日期 2007.06.06
申请号 CN03810843.7 申请日期 2003.03.13
申请人 泰勒·霍布森有限公司 发明人 A·D·班克赫德;I·麦克唐奈
分类号 G01B11/24(2006.01);G01B9/02(2006.01);G06F17/15(2006.01) 主分类号 G01B11/24(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;张志醒
主权项 权利要求书1.用于获得样品表面的表面轮廓数据的表面成型设备,所述设备包括:光线引导装置,用于沿采样路径朝向样品表面区域引导光线,并且沿参考路径朝向参考表面引导光线,如此使得样品表面区域反射的光线和参考表面反射的光线发生干涉;移动装置,用于在样品表面和参考表面之间沿测量路径实现相对移动;传感装置,用于感测表示在所述相对移动期间,样品表面区域生成的干涉条纹的光线;控制装置,用于当所述传感装置以一定间隔感测光强以便提供一系列强度值时,令所述移动装置实现所述相对移动来执行测量操作,其中所述强度值表示在所述相对移动期间、样品表面区域生成的干涉条纹;以及数据处理装置,用于处理所述强度值,所述数据处理装置包括:接收装置,用于在测量操作期间接收来自于传感装置的强度值;第一处理装置,用于当在测量操作期间由接收装置接收到强度值时、对强度值执行处理,以便生成表明相干峰值位置的数据;以及第二处理装置,用于在完成测量操作之后,使用第一处理装置生成的数据来获得表示表面区域高度的数据,其中第一和第二处理装置的其中一个包括:相关装置,用于将强度值与表示相关函数的相关函数数据相关,以提供所述样品表面区域的相关数据,以便能够识别样品表面区域的强度值中的相干峰值的位置;以及第二处理装置包括表面高度确定装置,用于根据与相干峰值位置相关的数据来确定样品表面区域的高度。
地址 英国英格兰