发明名称 减少泄漏功率和提高电路性能的电路配置和方法
摘要 本发明公开了减少泄漏功率和提高电路性能的电路配置(1),包括三个电位,其中在第三电位(4)和第二电位或第一电位(3)之间配置二极管(2)以获得第三电位(4)的电位降,在第三电位(4)和第二电位之间或第三电位(4)和第一电位(3)之间配置与所述二极管(2)并联的开关(5),以改变第三电位(4)相对于第一电位(3)或第二电位的电位降,其改变的大小为所述二极管(2)的电压降,其中所述开关(5)包括具有宽晶体管沟道的晶体管。进一步,本发明还公开了通过利用所述电路配置(1)减少泄漏功率和提高电路性能的方法。
申请公布号 CN1976228A 申请公布日期 2007.06.06
申请号 CN200610171822.1 申请日期 2006.11.06
申请人 国际商业机器公司 发明人 T·格梅克;H·巴罗夫斯基;J·利恩斯特拉;S·埃仑赖希
分类号 H03K19/00(2006.01);H03K19/0944(2006.01);H03K17/00(2006.01);H03K17/687(2006.01) 主分类号 H03K19/00(2006.01)
代理机构 北京市中咨律师事务所 代理人 于静;刘瑞东
主权项 1.一种减少泄漏功率和提高电路性能的电路配置(1,11,12,13,14,15,16),包括第一电位(3,31,32,33)、第二电位(61,62,63)以及位于第一电位(3,31,32,33)和第二电位(61,62,63)之间的第三电位(4,41,42,43,44,45,46),其中所述第三电位(4,41,42,43,44,45,46)相对于第一电位(3,31,32,33)或第二电位(61,62,63)具有可变电位降,其中将要提供可变输入电压的电路配置在所述第三电位(4,41,42,43,44,45,46)和所述第二电位(61,62,63)或第一电位(3,31,32,33)之间,其特征在于,在所述第三电位(4,41,42,43,44,45,46)和所述第二电位(61,62,63)之间或所述第三电位(4,41,42,43,44,45,46)和所述第一电位(3,31,32,33)之间配置二极管(2,21,22,23,24,25,26),以获得第三电位(4,41,42,43,44,45,46)的所述电位降,其中在第三电位(4,41,42,43,44,45,46)和第二电位(61,62,63)之间或第三电位(4,41,42,43,44,45,46)和第一电位(3,31,32,33)之间配置与所述二极管并联的开关(5,51,52,53,54,55,56),以改变第三电位(4,41,42,43,44,45,46)相对于第一电位(3,31,32,33)或第二电位(61,62,63)的电位降,其改变的大小为所述二极管(2,21,22,23,24,25,26)的电压降,其中所述开关(5,51,52,53,54,55,56)包括具有宽晶体管沟道的晶体管(5,51,52,53,54,55,56)。
地址 美国纽约