| 发明名称 | 集成电路测试器 | ||
| 摘要 | 本发明的目的在于实现一种集成电路测试器，用于不须采用偏移减算器，即可进行高分辨率、高精度的测定。本发明对于将受测试对象的输出以A/D转换器进行测定的集成电路测试器加以改良。本装置的特征为具备电压产生单元，以根据受测试对象的输出而将上限基准电压、下限基准电压变动式地供应到A/D转换器。 | ||
| 申请公布号 | CN1975450A | 申请公布日期 | 2007.06.06 |
| 申请号 | CN200610163190.4 | 申请日期 | 2006.11.29 |
| 申请人 | 横河电机株式会社 | 发明人 | 永沼英树 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/00(2006.01);G09G3/00(2006.01);G09G3/36(2006.01);G02F1/13(2006.01);H03M1/12(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 蒲迈文;黄小临 |
| 主权项 | 1.一种集成电路测试器，将受测试对象的输出以A/D转换器进行测定；其特征为具备：电压产生单元，用以根据该受测试对象的输出，将上限基准电压、下限基准电压可变动地供应至该A/D转换器。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||