发明名称 Verfahren und System zur Durchführung eines Trace Pull Tests
摘要 Die vorliegende Erfindung bietet ein effizientes Prüfverfahren und System zum Prüfen des IC-Pakets wie beispielsweise BGA Packages. Mit der vorliegenden Erfindung steht dem Hersteller eine einfachere Möglichkeit zur Verfügung, verschiedene Arten von Paketen, einschließlich neueren Arten zu prüfen. Der Hersteller erhält außerdem ein genaueres Prüfergebnis. Darüber hinaus hilft es dem Hersteller, eine erhebliche Verbesserung des IC-Verpackungsprozesses zu erreichen.
申请公布号 DE102006045207(A1) 申请公布日期 2007.06.06
申请号 DE20061045207 申请日期 2006.09.25
申请人 ADVANCED CHIP ENGINEERING TECHNOLOGY INC. 发明人 YANG, WEN-KUN;TAI, CHENG CHIEH
分类号 H01L21/60;H01L21/66;G01N3/00;G01N3/08 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
地址