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发明名称
System und Verfahren zur Mustererkennung im sehr hochdimensionalen Raum
摘要
申请公布号
DE60120323(T2)
申请公布日期
2007.06.06
申请号
DE20016020323T
申请日期
2001.11.02
申请人
AT&T CORP.
发明人
ATAL, BISHNU SAROOP
分类号
G10L15/06;G10L15/02
主分类号
G10L15/06
代理机构
代理人
主权项
地址
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