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发明名称
掺杂氮化矽薄膜之低温沉积方法及装置
摘要
本发明揭示一种掺杂氮化矽薄膜的低温沉积方法及装置。所改善者包含CVD反应室的机械设计(其可以提供低温制程均匀的热分布和制程化学品的均匀分布),以及在一基材上沉积至少一层含有矽和氮的沉积层之方法,其中该方法系藉由加热一基材、通入一含矽前驱物至一制程反应室(其具有由一接合环和一或多个阻断板及一排气系统界定的混合区)中、加热该接合环及一部分的排气系统、通入一或多种的氢、锗、硼、或含碳前驱物至该制程反应室内、以及选择性地通入一含氮前驱物至该制程反应室内。
申请公布号
TW200721271
申请公布日期
2007.06.01
申请号
TW095134105
申请日期
2006.09.14
申请人
应用材料股份有限公司
发明人
伊尔R 瑟亚纳拉亚南;史密斯雅各W SMITH, JACOB W.;塞特辛恩M SEUTTER, SEAN M.;臧光汉;林安德鲁M LAM, ANDREW M.;坎尼罕凯文L CUNNINGHAM, KEVIN L.;拉玛恰德兰发尼
分类号
H01L21/205(2006.01)
主分类号
H01L21/205(2006.01)
代理机构
代理人
蔡坤财;李世章
主权项
地址
美国
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